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LL2012-FHL10NJ Datasheet(PDF) 5 Page - TOKO, Inc |
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LL2012-FHL10NJ Datasheet(HTML) 5 Page - TOKO, Inc |
5 / 6 page Multilayer and Thick FilmChip Inductors 積層・厚膜チップインダクタ SOLDERING CONDITIONS/はんだ付け条件 Recommended Pattern はんだ付け推奨パターン • Conditions for soldering temperatures are determined as per figures below after prior confirmation that abnormalities are not evident. • はんだ付け温度条件は下図を基準とし事前に「異常がない」ことを確認の上、条件を決めて下さい。 bb c a 2s. 250±10°C 150±10°C 2min. Solder iron power はんだこて容量:18W Flow Soldering Reflow Soldering Soldering Iron 7s. 230±5°C 80±20°C 2min. 20s. 140~170°C 240°C 225°C 2min. 80s. Reflow soldering a b c Pattern dimensions (unit; mm) LL2012 series Flow soldering 1.0~1.4 0.8~1.2 0.8~1.0 1.0~1.2 0.6~1.0 0.8~1.2 0.8~1.0 0.8~1.0 0.6~0.8 0.7 0.6~0.8 0.6~0.8 0.4 0.4~0.5 0.45~0.55 0.25 0.18~0.22 0.30~0.35 Reflow soldering Flow soldering Reflow soldering Reflow soldering LL1608 series LL1005 & LLP1005 series LLV0603 series ELECTRICAL CHARACTERISTICS TEST METHOD/電気的特性測定方法 Test Circuit 測定回路 DC RESISTANCE TESTER SW INDUCTOR SAMPLE SW 直流抵抗計 供試 コイル 1. INDUCTANCE, Q • Test equipment • Impedance analyzer: 4291A/B(Agilent):LL1005-FHL, LL1608-FSL, LL2012-FHL, LLP1005-FH, LLV0603-FB, LLV0603-F, •Test fixture: 16192A(Agilent): LL1005-FHL, LL1608-FSL, LL2012-FHL 16196B(Agilent): LLP1005-FH 16196C(Agilent): LLV0603-FB, LLV0603-F • Test method • Set measuring frequency read inductance and Q value. 2. RDC (DC Resistance) • Test equipment • 4338A/B(Agilent) or equivalent • Test method (1) Place the sample in the test terminals. (2) Do not place in or pull out the sample while pushing SW. 1. インダクタンス、 Q • 使用機器および治具 • 測定器:4291A/B(Agilent): LL1005-FHL, LL1608-FSL, LL2012-FHL, LLP1005-FH, LLV0603-FB, LLV0603-F • 治 具:16192A(Agilent): LL1005-FHL, LL1608-FSL, LL2012-FHL 16196B(Agilent): LLP1005-FH 16196C(Agilent): LLV0603-FB, LLV0603-F • 測定方法 • 測定周波数をセットし、インダクタンス、Qを読み取る。 2. RDC (直流抵抗) • 使用機器および治具の回路 • 測定器:4338A/B(Agilent)または相当品 • 測定方法 (1) 端子にチップをセットする。 (2) SWを押した状態でチップを出し入れしてはならない。 3. Self resonance frequency (S.R.F.) • Test equipment • Network Analyzer: 8719D(Agilent):0.5GHz∼13.5GHz 8720D(Agilent):13.6GHz∼20.0GHz • Test Method • Measure the frequency at which the phase of inductive reactance and capacitive reactance is 0. 3. S.R.F.(自己共振周波数) • 使用機器 • 測定器:8719D(Agilent):0.5GHz∼13.5GHzの測定に適用 8720D(Agilent):13.6GHz∼20.0GHzの測定に適用 • 測定方法 • ネットワーク解析によるインピーダンス測定より、誘導性リア クタンスと容量性リアクタンスの位相が0になる周波数を読み 取る。 |
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